VLSI 測試系統
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產品名稱: VLSI 測試系統
產品型號: 3380
產品展商: Chroma
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簡單介紹
50/100 MHz 測試頻率
1024 I數字信道管腳 (*高1280數字信道管腳)
高達1024 sites 并行測試
32/64/128 pattern 內存
16M capture memory per pin
多樣化 VI 電源
彈性化硬件架構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel trim/match 功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
高速時序測試單位 (HSTMU)
支持STDF工具
測試program/pattern轉換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
AD/DA功能板卡 (可選配)
SCAN向量存儲深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
ALPG 測試功能可供內存IC用 (可選配)
CRAFT C/C++ 程序語言
軟件接口與
VLSI 測試系統
的詳細介紹
產品特色
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50/100 MHz 測試頻率
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1024 I數字信道管腳 (*高1280數字信道管腳)
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高達1024 sites 并行測試
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32/64/128 pattern 內存
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16M capture memory per pin
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多樣化 VI 電源
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彈性化硬件架構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
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Real parallel trim/match 功能
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時序頻率測試單位 (TFMU)
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高速時序測試單位 (HSTMU)
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支持STDF工具
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測試program/pattern轉換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312,V7, TRI-6036等)
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AD/DA功能板卡 (可選配)
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SCAN向量存儲深度(*高 2G bits/chain) (可選配)
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ALPG 測試功能可供內存IC用 (可選配)
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CRAFT C/C++ 程序語言
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軟件接口與3380P/3360P相同
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人性化的Windows 7操作系統
為因應未來IC芯片腳位數更多、速率更高、整合功能更為復雜的發展驅勢，Chroma以此發展方向提供新一代3380系列VLSI測試機臺，包含 3380D、380P、3380機型，根據不同的腳位數或同測能力(Parallel Test)，提供需求與成本效益兼具的測試解決方案。
此系列機型之一的VLSI測試系統3380，具有*高1280 I/O pins、256 VI、彈性化架構、以及完整選項功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同測的市場驅勢，具備1024 I/O pin可同測1024個芯片的能力。除了獨特的4-wire高密度IC電源(VI source)外，彈性化可調整的架構還可提供Mini&Macro LED驅動IC、CMOS影像傳感器(CIS)、及3D影像測試等解決方案；以利涵蓋更廣泛的IC測試功能與應用范圍。
3380 VLSI測試系統可無縫接軌3380D(256pins)與3380P(512pins)，以因應更高的產能需求。3380系列VLSI測試系統無論在裝機、穩定度、友善使用接口、及成本效益上，長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。
應用范圍
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微控制器單元 (MCU)
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ADC/DAC混和訊號IC
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邏輯IC
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ADDA
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ALPG
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Smart Card
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Mini&Macro LED驅動IC
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CMOS影像傳感器 (CIS)
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電源IC (Class D IC)
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消費性IC
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LED驅動IC
